Nand 闪存单元上的坏块

Bad Block on Nand flahs cell

我正在研究闪存 (Nand) 的可靠性问题。我们知道,如果块损坏,它会调用 "bad block"。但我有一些问题让我感到困惑。期待您的帮助。
这是我的问题:

1.Can 我们也称那个单元格为“坏单元格”,其中包括坏块?

2.what是bad block和bad cell(或damaged cell)的区别吗?

在program/read或program/write时出现

3.Can坏块? (因为据我所知,它经常发生在擦除块上)

提前致谢。

在闪存中,一个cell是最小的存储单元,通常对应一个浮栅晶体管

自然而然,坏电池不工作存储单元。
该术语显然是有效的并被使用,至少在本文中是这样:Flash Memory Technology

Sometimes audio flash devices may contain some bad cells.

NAND 闪存中 cells 被组织成 pages 而不是字节,以便获得更好的 space 密度。
一个是一组,可以一起擦除;因此,blocks 只是一个 cells 的数组,而 bad block 是一个至少包含一个 坏电池 .

关于第三点,老实说我也说不清楚
阅读,只是一种感觉,应该不能真正打破细胞。
擦除,一定可以。
根据维基百科,可以使用 Hot Carrier Injection 进行编程,这可能会导致物理损坏。