如何从 EELS 光谱的边缘自动获取信号和误差？
How can I automatically get both the signal and error from edges in EELS spectra?
Is there some DM-script function, or any other way, to obtain both the signal integral and the error of the signal integral from a Spectrum-Image or series of background-subtracted EELS Spectra?
我正在 DigitalMicrograph 中分析一系列 EELS 光谱。我使用 DM 中的常规工具来获取背景减法后不同 windows 中的信号计数。当我一次分析一个光谱时（例如使用 EELS\Quantification…，并选择“单一光谱”），除了光谱信号之外，我还得到了误差估计。
例如我得到：Signal (counts): 2.91e+004 ± 1366。
但是，如果我分析光谱图像或光谱线（SI\Map\Signal（动力学）… 或 ELLS\Quantification，但选择parent spectrum-image)，我无法获得错误，我只能获得信号计数。
没有对此功能的脚本访问。但是，一个人可以很容易地自己做数学题。
EELS 分析中给出的误差 (GMS 2) 只是根据泊松统计计算的检测器读数的不确定性，即 Sqrt(N) 其中 N 是相应能量区域的综合强度（背景减法之前）。如果存在强度校准，则会将其考虑在内。
Is there some DM-script function, or any other way, to obtain both the signal integral and the error of the signal integral from a Spectrum-Image or series of background-subtracted EELS Spectra?
我正在 DigitalMicrograph 中分析一系列 EELS 光谱。我使用 DM 中的常规工具来获取背景减法后不同 windows 中的信号计数。当我一次分析一个光谱时（例如使用 EELS\Quantification…，并选择“单一光谱”），除了光谱信号之外，我还得到了误差估计。
例如我得到：Signal (counts): 2.91e+004 ± 1366。
但是，如果我分析光谱图像或光谱线（SI\Map\Signal（动力学）… 或 ELLS\Quantification，但选择parent spectrum-image)，我无法获得错误，我只能获得信号计数。
没有对此功能的脚本访问。但是，一个人可以很容易地自己做数学题。
EELS 分析中给出的误差 (GMS 2) 只是根据泊松统计计算的检测器读数的不确定性，即 Sqrt(N) 其中 N 是相应能量区域的综合强度（背景减法之前）。如果存在强度校准，则会将其考虑在内。