数码显微照片 TEM 控制 "beam blank"

DigitalMicrograph TEM control "beam blank"

我一直在尝试使用 DM 脚本自动执行获取一系列图像的过程。在采集之间有处理时间,电子束仍在照亮样本。是否有控制光束空白的DM脚本函数(以便它也适用于光束敏感材料)?我将不胜感激 feedback/response。

GMS 3.2有这样的命令——但不是所有系统都支持。您可以使用 EMHasBeamBlanker() 进行检查,然后使用 EMSetBeamBlanked( bool )bool EMGetBeamBlanked()