Keil 调试器更改 STM32H7 关于 FIFO 的硬件状态
Keil debugger changes the hardware state of STM32H7 regarding FIFOs
我在为 STM32H743 使用 Keil MDK 5 时遇到了以下问题。
我的 SPI 代码存在通信问题，一段时间后我发现这是由于定期 Windows 更新造成的。
当它被激活时，似乎调试器正在定期读取 SPI 数据寄存器，它读取 FIFO（因此改变了 FIFO 的状态）。因此，当软件读取 FIFO 时，一些字节已经“丢失”（或被调试器消耗）。
这是预期的行为吗？不知道是Keil的问题还是STM32的问题？
我不完全理解从调试器到寄存器的访问是如何工作的：我猜是通过 SWD 发送了一个读取命令，但是在内部，对内存的访问是否像代码一样通过 AHB/APB在 CPU ?
上执行
如果您的手表 window（或调试器屏幕上的任何其他类似 windows）显示 DR，并且每次单步执行（或通常中断）数据时单步执行代码已读。
这是唯一可能的原因。
任何通过读取修改行为的寄存器（例如清除状态位）在调试时可能会出现问题，并且寄存器显示在调试 window。
最好的办法是只在停止时查看寄存器（关闭外围设备的 DR window），并始终注意您可能会清除状态位等。
这是处理器的工作方式，与调试器无关。
这是串行通信等非常常见的调试问题。
我在为 STM32H743 使用 Keil MDK 5 时遇到了以下问题。
我的 SPI 代码存在通信问题，一段时间后我发现这是由于定期 Windows 更新造成的。
当它被激活时，似乎调试器正在定期读取 SPI 数据寄存器，它读取 FIFO（因此改变了 FIFO 的状态）。因此，当软件读取 FIFO 时，一些字节已经“丢失”（或被调试器消耗）。
这是预期的行为吗？不知道是Keil的问题还是STM32的问题？
我不完全理解从调试器到寄存器的访问是如何工作的：我猜是通过 SWD 发送了一个读取命令，但是在内部，对内存的访问是否像代码一样通过 AHB/APB在 CPU ?
上执行如果您的手表 window（或调试器屏幕上的任何其他类似 windows）显示 DR，并且每次单步执行（或通常中断）数据时单步执行代码已读。
这是唯一可能的原因。
任何通过读取修改行为的寄存器（例如清除状态位）在调试时可能会出现问题，并且寄存器显示在调试 window。
最好的办法是只在停止时查看寄存器（关闭外围设备的 DR window），并始终注意您可能会清除状态位等。
这是处理器的工作方式，与调试器无关。
这是串行通信等非常常见的调试问题。